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冷热冲击试验箱

  • 型   号:DGJS-50
  • 价   格:

冷热冲击试验箱用途:电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具. 电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具。

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一、  冷热冲击试验箱用途:

   电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具. 冷热冲击试验箱电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具。

二、 尺寸及温度选择

产品型号

DGJS-50

DGJS-80

DGJS-150

内尺寸

36x40x35(HxD)CM

40x50x40(HxD)CM

50x60x50(HxD)CM

外尺寸

155x175x160(HxD)CM

155x185x160(HxD)CM

165x195x170(HxD)CM

温度范围

-65~150℃;可分为几个等级:-40℃;-55℃;-65℃

温度转时间

≦35min≧10sec

温度控制精度/分布精度

±0.5℃/±0.1℃

5.15 温度偏差

≦±2℃

5.16 温度均匀度

≦±2℃

三、试样限制

禁止:

  1. 易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存

  2. 腐蚀性物质试样的试验及储存

  3. 生物试样的试验或储存

  4. 强电磁发射源试样的试验及储存

  5. 放射性物质试样的试验及储存

  6. 剧毒物质试样的试验及储存

  7. 试验或储存过程中可能产生剧毒物质的试样的试验及储存

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